探针轮廓仪

仪器简介：三维轮廓仪NanoMap-LS
三维轮廓仪NanoMap-LS拥有超大的扫描范围，仅需按下一个按钮即可产生高分辨率的三维和二维图像。

三维轮廓仪NanoMap-LS特点
常规的接触式轮廓仪和扫描探针显微镜技术的wan美结合
自动样品台扫描，保证样品精确而快速的扫描测试。使用高级别光学参考平台能使长程扫描范围到 100mm。
在扫描过程中结合彩色光学照相机可对样品直接观察。
软件设置恒定微力接触
简单的2步关键操作，友好的软件操作界面

三维轮廓仪的应用
三维表面形貌/轮廓仪主要应用在金属材料、生物材料、聚合物材料、陶瓷材料等各种材料表面的薄膜厚度，台阶高度，二维粗糙度（Ra,Rq,Rmax...），三维粗糙度（Sa,Sq,Smax），划痕截面面积，划痕体积，磨损面积，磨损体积，磨损深度，薄膜应力（曲定量率半径法）等定量测量。摆脱了以往只能得到二维信息，或三维信息过于粗糙的现状。将轮廓仪带入了另一个高精度测量的新时代。



三维表面轮廓测量和粗糙度测量，即适用于精密抛光的光学表面也可适用于质地粗糙的机加工零件。
薄膜和厚膜的台阶高度测量
划痕形貌，磨损深度、宽度和体积定量测量
空间分析和表面纹理表征
平面度和曲率测量
二维薄膜应力测量
微电子表面分析和MEMS表征
表面质量和缺陷检测
电脑PentiumIV,USB2.0联接
操作系统WinXP
系统动力需求90-240V，350W