CSI是一家法国科学设备制造商,拥有专业的AFM设计概念,以及为现有的AFM提供设计选项。它避免了激光对准需要预先定位针尖的系统,针尖/样品的顶部和侧视图,结合垂直的马达控制系统,使预先趋近更加容易,通过光学视窗和X-Y样品平移台相结合使得样品定位简单,为研究型实验室或工厂提供解决方案。
基本技术特点
1)控制器规格
XY扫描范围 100 μm(±10%),Z轴扫描范围9μm (±10%),XY驱动分辨率24位控制-0.06Åm
数据采样点高达4096
2)预先配置的模式
不需要增加额外的模块就能实现所有需要的测量,通过简单地选择AFM模式,软件驱动和连接到相应的电子设备不会产生错误。通过一个简单的点击,你可以在所有的AFM模式之间切,
3)柔性材料电学测试ResiScope
柔性ResiScope原理是基于间歇接触,样品的摩擦礼盒针尖的恒定力提供定量的测量,不损坏精细样品的表面。
4)高清KFM模式
除了标准的KFM模式, Nano-Observer还能提供一种高清KFM模式,较为大提高了分辨率,并提高了表面电位的测量灵敏度,
5)Nano-Observer环境控制
设计提供了环境控制模块(气体,湿度,温度),为提高电器测量性能或者保护样品免受氧化
应用
普通样品/生物样品表面形貌
多模块配置测量(PFM/KFM/EAFM/CAFM等)
通过ResiScopeTM模式扫描(超过10个数量级的电流,电阻)。
上海纳腾仪器有限公司
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