植物光谱物候测量系统——Crop Circle Phenom 2

集多种功能于一身

主要功能

● 美国Holland Scientific公司的Crop Circle Phenom 2植物光谱物候测量系统，可用于研究植物冠层辐射穿透及与植物冠层及生长相关的各项环境指标。

● 系统由ACS-435植物冠层光谱探头、DAS44X多参数传感探头和GeoSCOUT X数据采集器组成。

● ACS435植物冠层光谱探头，可同时测量670nm, 730nm和780nm三个波长的反射率，可计算得到样品的NDRE和NDVI植被指数。ACS-435不受环境光的限制，通过其独特的光源测定技术，白天和夜晚均可进行测定。

● DAS44X多参数传感探头将多种不同功能的传感器集成到一个紧凑的探头里。包括顶部入射PAR和底部反射PAR，红外冠层温度，空气温度，空气相对湿度，探头到冠层的距离、大气压。DAS44X还配有2个24位差分电压信号扩展通道。

● GeoSCOUT X数据采集终端内置有GPS，采集数据的同时可对数据进行地理信息标记，内置2GB SD内存卡。GeoSCOUT X数据采集终端可连接2组Phenom 2探头，外加2个RS-232串口设备，还可方便设置不同设备的位置修正参数。

● 系统不仅可装配到各种车辆或拖拉机上，还可搭载到无人机，对较大尺度的农田、植被等植物冠层参数进行测量。所测数据可用于品种筛选，植物生理特性研究，分析植物或作物的养分、水分、病害及其他生长状况等。

测量参数

NDVI植被指数，NDRE植被指数，LAI叶面积指数，冠层叶绿素含量，红边反射率，近红外反射率，红光反射率，入射PAR，冠层反射PAR，红外冠层温度，空气温度，空气相对湿度，传感器到冠层距离，大气压等。

主要特点

● 将功能丰富的传感器集成到一个系统中。小巧轻便，功能强大。

● 集合了多光谱、空气温湿度、PAR等多种传感器，获取植物冠层参数更全面。

● 三个光谱通道可同时测量670nm, 730nm和780nm的反射率信息

● 先进的自主光源反射技术，白天夜晚均可测定

● 可对数据进行地理标记

应用领域

应用案例

小麦冠层叶面积指数和传感器与冠层距离的回归分析

13个冬小麦品系的产量与系统获取的5种表型参数的相关性分析

（A小麦产量，B冠层温度与环境温度差，C冠层叶绿素含量，D光合有效辐射吸收系数，E叶面积指数，F冠层高度）

产地：美国Holland