梅特勒托利多科技(中国)有限公司
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梅特勒-托利多超越系列折光率模块 RX4

产品简介

精确、直观、模块化.

RX4折光率模块可与超越系列密度计结合使用,用于密度和折光率的同步测量。RX4可用于测量折光率,测量范围为1.32到1.70,同时可实现自动温度控制,控制范围为0到100 °C。

技术参数

规格 - 折光率模块 RX4
测量范围nD1.3200 - 1.7000
准确度nD0.0001
重复性nD (±)5e-005
测量范围 Brix0-100 % w/w
准确度 Brix0.05 %
准确度 Brix (2)0.0005 % w/w
温度范围0 °C – 100 °C
温度准确度 (2)0.1 °C
测量单位 (3)折光率、糖度(白利糖度等)、酸碱度、化学品、凝固点、盐度等; 最高可达30项用户定义浓度表(允许以表格或公式的形式输入)。
尺寸(深x高x宽)226 x 193 x 208 mm
重量4.8 kg
尺寸226 mm
尺寸 (高x宽)193 mm x 208 mm
重复性 Brix (% w/w)0.05 % w/w
温度控制
物料号 (s)30474905



仪器种类: 台式
1.无缝模块化设计
RX4可与超越系列密度计同时使用,既可节省空间,还可同时测量折光率和密度。
2.用户管理
用户管理系统允许定义不同的访问权限,每个用户均可设定自己的主屏幕和语言。
3.自动温控
集成的帕尔贴温度控制装置能够快速的加热或冷却测量池,因此能够准确地将样品维持在所需的温度。
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