针对高阶OLED检测挑战推出V2.0版本,ZD突破:偏色测量精度、检测定位精度、纹理色斑评价模型、缺陷分类及量化等;
覆盖全工序点灯不良:亮点、暗点、亮线、暗线、Mura、混色、POL异物/划伤、贴合异物、贴合划伤等;
关键特性:
−3~8inch,由转盘主体和检测单元组成;
−小亮点精度:5um;Mura检测精度:灰画面2%;
−色度、偏色、混色测量:△UV重复测量精度:±0.0002; −支持90° 3D弧边曲面检测;
−支持点类自动复核,小测量精度5um,降低点类人工复判; −适应不同像素排列;0像素定位偏差;
−支持扩展Cell、MDL产品的自动压接点亮,视觉对位系统精度分别可达40um、50um;
−支持扩展兼容光学特性(伽马校正、亮度、色坐标等)检查、demura校正等功能;
凌云光技术股份有限公司
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