准动态测量法测量块体薄膜材料的 seebeck 系数和电阻率

本仪器采用准动态法（具有ZL技术）和四探针法分别测量样品的 seebeck 系数和电阻率不仅可用于测量半导体块状样品，康铜镍铋等金属半金属样品，石墨碳材料等非金属样品的seebeck 系数和电阻率，还可测薄膜（纳米）样品的 seebeck 系数和电阻率 薄膜及块体 seebeck 系数和电阻率检测 嘉仪通 热电参数测试系统Namicro-