残余应力双折射仪WPA-200-XL-北京欧屹科技有限公司

详细信息

主要特点：

操作简单，测量速度可以快到3秒。
采用ＣＣＤ Camera，视野范围内可一次测量，测量范围广。
测量数据是二维分布图像，可以更直观的读取数据。
具有多种分析功能和测量结果的比较。
维护简单，不含旋转光学滤片的机构。

主要应用:

光学零件（镜片、薄膜、导光板）
透明成型品（车载透明零件、食用品容器）
高分子材料（PET PVA COP ACRYL PC COC PMMA）
透明基板（玻璃、石英、蓝宝石、单结晶钻石）

技术参数:

项次	项目	具体参数
1	输出项目	相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】

2	测量波长	520nm、543nm、575nm

3	双折射测量范围	0-3500nm

4	测量最小分辨率	0.001nm

5	测量重复精度	<1nm（西格玛）

6	视野尺寸	218x290mm-360×480mm（标准）

7	选配镜头视野	无选配

8	选配功能	实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制，CD模式

测量案例：

核心参数

仪器种类: 台式

产品优势

WPA-200-XL系列是Photonic lattic公司以其领xian世界的光子晶体制造技术开发的产品，独特的测量技术，高速而又精确的测量能力使其成为不可多得的光学测量产品。该产品在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量，全面掌握应力分布。可测数千nm高相位差分布的万用机器，zui适合用来测量光学薄膜或透明树脂,量化测量结果，二维图表可以更直观的读取数据。