bruker布鲁克三维光学轮廓仪ContourX-100

bruker布鲁克三维光学轮廓仪ContourX-100

具备高性价比的 ContourX-100 光学轮廓仪为精确的、可重复的、非接触式表面测量树立了新基准。

该系统占地面积小，所采用的简化方案融合了布鲁克几十年的白光干涉（WLI）创新技术，具有强大的二维/三维高分辨测量能力。

新一代增强功能包括全新的 5MP 摄像头和更新平台，实现更多缝合功能，并新增一个测量模式 USI，提升了精加工表面、厚膜和摩擦学应用测量时的便捷性和灵活性。ContourX-100 堪称性价比高的台式系统。

计量能力

ContourX-100 轮廓仪是布鲁克40多年来在非接触式表面计量、表征和成像领域专有光学创新的结晶。

该系统利用三维 WLI 和二维成像技术，一次采集可执行多次分析。

ContourX-100 在反射率 0.05% 到 100% 的所有表面情况下都能发挥稳定性能。

价值和分析

ContourX-100 台式可执行数千种自定义分析，并采用布鲁克简单而强大的 VisionXpress 和 Vision64 用户界面，提升了实验室和工厂的生产效率。

软硬件结合，实现简便操作下的高效率光学性能，全面超越同类计量技术。