鼎竑离子减薄仪 GU-AI9000 减薄硅片

2024-05-16178

资料简介：
上透射电镜拍摄的样品薄片的厚度不能超过 200 纳米，因此在上透射电镜前要进行前处理，离子减薄仪的作用就是将样品薄片减薄至 200 纳米以下。硅片在生活中很常见，且在电子电器行业中也使用的非常多

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