广州领拓仪器科技有限公司
鼎竑离子减薄仪 GU-AI9000 减薄硅片
2024-05-16
167
资料简介:
上透射电镜拍摄的样品薄片的厚度不能超过 200 纳米,因此在上透射电镜前要进行前处理,离子减薄仪的作用就是将样品薄片减薄至 200 纳米以下。硅片在生活中很常见,且在电子电器行业中也使用的非常多
文件大小:
383.37KB
建议WIFI下载,土豪忽略
广州领拓仪器科技有限公司
仪器网(yiqi.com)
--仪器行业网络宣传传媒
网站导航
公司首页
公司简介
公司新闻
产品文章
产品中心
全部分类
解决方案
技术资料
视频资料
资质证书
联系我们
访客留言
选购仪器 上yiqi.com
仪器网络推广
品牌网上传播
长按识别二维码查看信息详情