普通数字测厚仪

仪器简介：

测量薄膜或片状材料的厚度均匀性
附件：
台式支座
样品砧
标准测头
可选配重使样品的压力达到要求

可选测量V型缺口深度刀头.

技术参数：

4位数字显示器
测量速度3m/sec
测量施力：20g+ -0.2
手动置零装置
串行输出口用于连接打印机

主要特点：

测量薄膜或片状材料的厚度均匀性
分辨率可至0.001mm,测厚范围为12.5mm或25mm

可测量V型缺口深度.