METER研讨会回放 ‖ 专家带您了解叶面积指数：理论、方法与应用 2024年2月28日

 ~~ 研讨会回放 ~~ 

叶面积指数（LAI）在很多方面有着广泛的应用，包括：土地管理、生态学以及与GPP（总初级生产力）相关的许多方面。然而LAI的测量方法众多，如何选择Z佳的，或者Z适合的方法就成为一个需要考虑的问题。选择中，如何权衡精确性和工作强度呢？植物生理学专家Jeff Ritter带您解读叶面积指数的实际应用，以及如何将这些应用结合到生产实践中去。

研讨会讨论内容包含如下话题：

• 什么是叶面积指数LAI

• 为什么要测量LAI

• 直接取样法，包括落叶收集法

• 基于地面的间接方法，包括半球成像法

• 透射与反射对比法

• 卫星遥感方法

• 方法的选择，如何权衡精确性与工作强度
  

  
  

 ~~ 主讲嘉宾介绍 ~~ 

Jeff Ritter是METER Group的产品经理，负责植物、冠层及大气监测产品。他曾获华盛顿州立大学植物生理学硕士学位，研究方向是叶片表面气体交换，以及植物生物化学对全球碳循环测量的影响。Jeff Ritter还曾在华盛顿州立大学作物和土壤科学系担任研究教职。