METER研讨会预告 ‖ 专家带您了解叶面积指数：理论、方法与应用

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植物生理学专家Jeff Ritter解读叶面积指数的实际应用，以及如何将这些应用结合到生产实践中去。

~~ 研讨会详情 ~~

题目：The Expert Guide to Leaf Area Index: Theory, Methods, and Application

主讲人：Jeff Ritter，Product Manager，METER Group

主办方：METER Group

日期和时间：2024年2月28日（星期三）上午 1:00-2:00 (北京时间)

平台： Go to Webinar

可预约回放

叶面积指数（LAI）在很多方面有着广泛的应用，包括：土地管理、生态学以及与GPP（总初级生产力）相关的许多方面。然而LAI的测量方法众多，如何选择Z佳的，或者Z适合的方法就成为一个需要考虑的问题。选择中，如何权衡精确性和工作强度呢？来加入2024年2月28日的线上研讨会，一探究竟吧。

这次研讨会将讨论如下话题：

~~ 主讲嘉宾 ~~

Jeff Ritter

Jeff Ritter是METER Group的产品经理，负责植物、冠层及大气监测产品。他曾获华盛顿州立大学植物生理学硕士学位，研究方向是叶片表面气体交换，以及植物生物化学对全球碳循环测量的影响。Jeff Ritter还曾在华盛顿州立大学作物和土壤科学系担任研究教职。

~~ 如何参加 ~~

您可以点击阅读原文，直接报名。

考虑到研讨会时间对中国地区不是很方便，我们会在研讨会结束后一段时间为您提供带中文字幕的研讨会回放，请添加力高泰在线咨询微信获取相关信息。

添加咨询微信获取：会议报名链接、回放链接、问题咨询等。

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