SID4-SWIR-HR高分辨近红外波前分析仪

SID4-SWIR-HR高分辨近红外波前分析仪

基于PhasicsZG的四波横向剪切干涉技术和高质量的InGaAs探测器，提供了一个非常高的空间分辨率和灵敏度。确保测量红外镜头和短波红外源的精度。此外，SID4 SWIR提供了光谱范围从0.9到1.7μm，这种波前传感器覆盖可见光、近红外和短波红外区域且不需要任何校准直接进行测量。

    SID4-Swir                             光学器件测量                  自适应光学

特点：

由于其独特的ZG技术技术，Phasics的SID4-Swir波前传感器具备以下特点：

1.高分辨率：160x128测量点

2.高灵敏密度：整个光谱范围内相位噪声低于2nm

3.消色差：0.9-1.7μm（可扩展到2.4μm）

4.紧凑：易于集成

应用：

透镜测试：SID4 SWIR波前分析仪实时测量光学元件MTF和畸变。适用于光通信，夜视和其他军事和监视设备。无色差，SID4 SWIR涵盖所有光通信波长。

激光束测试：SID4 SWIR也可以短波红外光源，像1.55μm激光器或用于激光导向系统的LED。

SID4-SWIR-HR高分辨近红外波前分析仪产品参数：