SID4 IR-MCT集成了 Phasics四波横向剪切干涉ZL技术和新一代冷却MCT探测系统。这种独特的波前像差分析仪提供了一个非常高分辨率和超高灵敏度,波长范围跨越中波和短波红外范围(从1.2到5.5µµm m)。非常适合微弱光红外光源,如物镜和透镜测试的黑体源或FTIR激光束测量。
SID4 IR-MCT 光学元件测量 激光测量
特点:
由于其独特的ZL技术技术,Phasics的SID4 IR-MCT波前传感器具备以下特点:
1.高分辨率:160x128测量点
2.高灵敏密度:3nmRMS@3μW/cm2
3.宽光谱消色差:1.2-5.5μm
4.高精度:即便在极度微弱光情况下
5.高数值孔径:高达F/1且不需要转接透镜
6.新一代冷却MCT探测器
应用:
光学测试:SID4 IR-MCT是表征红外目标和镜头的非常好的设备,能提供MTF数据以及实时测量畸变和WFE。它的高灵敏度可用于黑色体频谱滤波的高光谱测试工作。
激光束测量:SID4 IR-MCT是具备微光红外源的测试设备,如量子级联激光或FTIR激光。能完整表征光束参数(像差,M²,强度分布,光束参数…)。
SID4 IR-MCT产品参数:
波长范围
1.2-5.5μm
通光孔径
9.6 x 7.68 mm2
空间分辨率
60 µm
采样点(相位/强度)
160 x 128 (> 19 000 points)
相位相对灵敏度
3nm RMS@3μW/cm2
ZD数值孔径
F/1
动态范围
300μm
采样频率
140 fps
实时分析频率
20 fps (full resolution)
数据接口
Giga Ethernet
尺寸(w x h x l)
135 x 140 x 240 mm
重量
3.5kg
其他波前分析仪:
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