Phasics利用其ZL的四波横向剪切干涉技术,在紫外波前测量提供了优秀的解决方案。它有非常高空间分辨率(250x250测量点)和高灵敏度(0.5 nm RMS)。这确保了UV镜头,表面和UV激光束测试的精确性。由于它小巧,易于使用,能有效地适应各种实验条件。
SID4-UV 光学器件测量 自适应光学
特点:
由于其独特的ZL技术技术,Phasics的SID4 UV波前传感器具备以下特点:
1.超高分辨率:250x250测量点
2.高灵敏度:0.5nm
3.直接测量:测量光学元件和发散光无需中继透镜
4.高性价比:光束和透镜测量高性价比解决方案
应用:
SID4 UV紫外波前传感器提供应用:
紫外激光器:光束测试与校正
紫外镜头的质量控制:个镜头的MTF和畸变,容易且准确的离轴测量
表面检查:曲率半径,三维形状
SID4 UV产品参数:
波长范围
250 - 400 nm
通光孔径
8 x 8 mm2
空间分辨率
32 µm
采样点(相位/强度)
250x 250
相位分辨率
0.5nm RMS
相位精度
10 nm RMS
动态范围
200 µm
采样频率
> 30 fps
实时分析频率
>3 fps (full resolution)
数据接口
Giga Ethernet
尺寸(w x h x l)
51 x 51 x 76 mm
重量
~300 g
其他波前分析仪:
Phasics SID4系列波前分析仪
Phasics SID4-UV 紫外波前分析仪
Phasics SID4可见光波前分析仪
Phasics SID4-HR可见高分辨率波前分析仪
Phasics SID4-NIR 1.5-1.6μm近红外波前分析仪
Phasics SID4-Swir 短波近红外波前分析仪
Phasics SID4-Dwir中长波红外波前分析仪
Phasics SID4-IR-MIC制冷型中短波波红外波前分析仪
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