基于PhasicsZL的四波横向剪切干涉技术和高质量的InGaAs探测器,提供了一个非常高的空间分辨率和灵敏度, 确保测量红外镜头和短波红外源的精度。此外,SID4 SWIR提供了光谱范围从0.9到1.7µm,这种波前传感器覆盖可见光、近红外和短波红外区域且不需要任何校准直接进行测量。
SID4-Swir 光学器件测量 自适应光学
特点:
由于其独特的ZL技术技术,Phasics的SID4-Swir波前传感器具备以下特点:
1.高分辨率:80x64测量点,经济实用,高性价比
2.高灵敏密度:整个光谱范围内相位噪声低于2nm
3.消色差:0.9-1.7μm(可扩展到2.4μm)
4.紧凑:易于集成
应用:
透镜测试:SID4 SWIR波前分析仪实时测量光学元件MTF和畸变。适用于光通信,夜视和其他军事和监视设备。无色差,SID4 SWIR涵盖所有光通信波长。
激光束测试:SID4 SWIR也可以短波红外光源,像1.55μm激光器或用于激光导向系统的LED。
SID4-Swir产品参数:
波长范围
0.9-1.7μm
通光孔径
9.6 x 7.68 mm2
空间分辨率
120 µm
采样点(相位/强度)
80 x 64 (> 5 000 points)
相位相对灵敏度
<2nm RMS
相位精度
15nm RMS
动态范围
100μm
采样频率
120 fps
实时分析频率
7 fps (full resolution)
数据接口
Giga Ethernet
尺寸(w x h x l)
100x 55 x 63 mm
重量
455g
其他波前分析仪:
Phasics SID4系列波前分析仪
Phasics SID4-UV 紫外波前分析仪
Phasics SID4可见光波前分析仪
Phasics SID4-HR可见高分辨率波前分析仪
Phasics SID4-NIR 1.5-1.6μm近红外波前分析仪
Phasics SID4-Swir-HR 短波近红外波前分析仪
Phasics SID4-Dwir中长波红外波前分析仪
Phasics SID4-IR-MIC制冷型中短波波红外波前分析仪
Phasics SID4-Lwir长波红外波前分析仪
上海屹持光电技术有限公司
仪器网(yiqi.com)--仪器行业网络宣传传媒
网站导航
选购仪器 上yiqi.com
仪器网络推广品牌网上传播