高纵深度光学相干层析扫描
2014-12-115885
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方案优势
我司提供的光学相干层析扫描,利用自适应光学具有目前业内Z高的纵向扫描深度5um目前正积极改善横向扫描深度目前为国内领xian世界上仅次于德国蔡司的OCT商用设备 Denselight SLD 超辐射发光二极管/Superlum SLD 超辐射激光二极管 光纤耦合器 单模耦合器 保偏耦合器 可见光波长耦合器 宽带耦合器 光电探测器 InGaAs Si Ge大光敏面探测器 Pritel+FFL+1060nm皮秒和飞秒激光器
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