广州标旗光电科技发展股份有限公司
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MS-TMS多点透过率测量仪


多孔透过率测量仪.jpg

MS-TMS多点透过率测量仪

    该仪器在成熟的显微透过率光路系统基础上,样品台升级为高精度电动位移平台,放置样品后,系统自动将待测小孔/滤光片依次移动至测量区域,并记录数据实现样品多孔/多点透过率自动测量,适用于手机面板的多孔测试、阵列滤光片的高通量测试、 镀膜滤光片的均匀性分析。


仪器特点:

◆ 用户可自定义样品测量位置,定位准确;

◆ 无损检测,支持成品全检

◆ 单点测量速度极快。


技术参数:


型号MS-TMS多点透过率测量仪
探测器Hamamtsu背照式2D-CCD
相对检测误差<0.2%(410-1000nm)
波长检测范围380-1100nm
信噪比(全信号)1000:1
CCD制冷-20°C
波长精度1.0nm
光源卤素钨灯
测量光束直径0.5mm
样品测试平台行程(可选)X轴                  100mm/180mm
Y轴                  100mm/180mm
螺杆导程4mm
分辨率0.0032mm
重复定位精度<0.005mm
步进电机42步进电机(1.8°)
操作系统Windows7~Windows10/USB2.0
电源220V-50Hz/W



◆用户可自定义样品测量位置,定位准确;
◆无损检测,支持成品全检
◆单点测量速度极快。

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