所谓地质薄片是指在偏光显微镜下鉴定透明矿物和岩石的一种方法。将矿物或岩石标本磨制成薄片,结合镜下观察,对矿石和围岩的矿物成分、矿石结构构造、矿物共生组合和生成顺序、近矿围岩蚀变特征、次生变化等进行研究,为确定岩石或矿石的矿物种类、分析地质构造、推断矿床生成地质条件、了解矿石加工技术性能以及划分矿石自然类型等方面提供资料依据。
1、样品切割成小方块 ---将原始的大型矿物分解为小型规则矿物。 |
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2、样品粘合面的研磨抛光 | |
3、样品清洗 ——去除各道处理工序中残余研磨削与磨料,振荡出矿物碎削 | |
4、样品与载玻片的粘结固定 | |
5、样品标记与干燥 | |
6、样品切割减薄至0.5mm |
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7、样品测厚 ---在磨抛前进行预测厚并做好记录 | |
8、样品研磨抛光 ——在保证样品两表面平行度的前提下研磨减薄至0.03mm,并进行抛光处理。 |
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9、加盖玻片,偏光观察 ——偏光显微镜下观察样品的具体形态 | |
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