德国Phynix Surfix F磁性测厚仪

Phynix Surfix F磁性测厚仪技术参数：

Ø 数据处理：统计、存储、传输

Ø 符合标准： GB/T13448

Ø 测量范围： 0-1500µｍ

Ø 分辨率： 0.1µｍ

Ø 误差： ±（1µｍ＋1%）

Ø zui小基板厚度：0.25mm

Ø 尺寸：140X62X30mm

Ø 2节1.5V五号电池