一、 主要特点
(1)、可对C(6)-Fm(100)(次ppm~100%)进行无损定性、定量分析;
(2)、采用ZLWAG(Wide Angle Geometry)技术,配备8个二次靶;
(3)、8款管滤光片,更快更精确的测定微量及痕量元素;
(4)、标准配置硅漂移探测器SDD,适于高和低原子序数的元素分析检测;
(5)、针对轻原子序数元素,可配备分辨率达123eV的SDD LE探测器;
(6)、外型坚固耐用,适于移动实验室,符合冲击试验MIL810E规格;
(7)、检测光斑可变,适于不同尺寸和形状的样品检测;
(8)、配备集成电脑、专业nEXt分析软件,操作方便;
二、二次靶激发技术介绍
二次靶激发技术能zui*程度的去除散射背景,提高信噪比,降低检测器的检测限。如图,样品为含少量Cr,Mn,Fe杂质的Ni合金。当直接激发时(绿),杂质元素的吸收信号被Ni元素的吸收信号淹没;相反,使用Ni二次靶激发时,杂质元素的吸收信号被大大加强。
三、主要技术参数
系统规格 | SDD 版本 | SDD LE |
测量范围 | F(9) - Fm(100) | C(6) - Fm(100) |
测量浓度 | 次 ppm -100% | |
X-射线管靶材 | Rh靶 | |
X-射线管电压/功率 | 50kV, 50W | |
激发类型 | 直接激发和二次靶激发 | |
探测器 | 硅漂移探测器SDD | 超级 SDD |
分辨率(FWHM) | 129eV ± 5eV | 123eV ± 5eV |
自动进样器 | 8位 | |
工作环境 | 空气/真空/氦气 | |
管滤光片 | 8款软件可选 | |
二次靶 | 8种 | |
操作软件 | nEXt分析包(包含基础基本参数法) | |
选配件 | 16位自动进样器、专业基本参数法、真空泵、氦气净化器等 |
上海泽权仪器设备有限公司
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