日本DKK HSCA-2000 总硫分析仪

产品介绍：

本分析仪用于测定石油产品和液体有机化工品中的微量硫含量，包括汽油、石脑油、煤油和柴油，甲醇，苯，酯，酮，醚等。该分析仪可应用于石油产品加工及调合过程中过程控制和产品质量控制，测量指标满足车用燃料的国IV和国V中关于总硫检验的要求。

测量原理：能量色散法 X-射线荧光法（EDXRF）

X-射线荧光是由于原子内层轨道电子受到高能X-射线激发而产生的一种现象。当X射线激发原子的内层电子，使电子从内层逸出并在内层电子轨道产生空穴，这时原子会自于不稳定的高能状态。外层轨道的电子会向内层的空穴迁移，迁移过程中会释放出能量，即产生X-射线荧光现象。所产生的X-荧光的能量，与原子结构有关，对于特定的元素原子，采用特定能量的X-射线激发，会产生特征的X-荧光。对于硫原子，其K层电子被激发而逸出，其L 层电子迁移到K 层，这个特定的X-射线荧光的能量主要是S-Kα线，其能量为2.31keV，少量的是S-Kβ线，其能量为2.46keV。

与硫原子相近的元素原子的 X-射线荧光的能量列于下表：

元素    能量keV（千电子伏特） 

硫，     S-Kα 2.31 

氩，     Ar-Kα 2.96 

钛，     Ti-Kα 4.51 

铁，     Fe-Kα 6.40 

由于特征X-射线荧光的强度与样品中硫原子的数量成正比，这样通过测定样品的X-射线荧光，就可以直接检测出样品中的硫含量。

应用：

石油产品精制     石油加工工艺研究 

●加氢裂化         ●脱硫催化剂评定 

●加氢精制         ●新工艺开发 

●油品调合         ●油品评价 

●油品脱硫         ●油品质量管理 

产品特点：

测定方法：能量色散型X-射线荧光法（EDXRF），不需要对样品进行燃烧及转化，忙于非破坏样品的分析方法；

分析仪无可动机械部件，无需更换动力窗膜片，无需真空泵维持测量系统真空，无温度灵敏的分光晶体等单色器部件，优于波长色散型X-射线荧光法（WDXRF），无日常维护，无需定时停机更换消耗品，节省操作成本与人力成本；

同类产品中取得ZG国家防爆认证NEPSI Ex dpx IIB+H2 T4 Gb，可应用于所有炼油及油品精制过程，可应用于油品加氢是过程，证书号GYJ11.1655；

总硫测量范围 0~10 至 0~500ppm间可任意设定，量程可扩展至0~1000ppm；

采用直观的10“彩色平板计算机操作界面，可选择中文或英文语言显示，内置Windows XP或Win7 系统，便于现场进行操作与维护，可显示丰富的信息与图形；

测量方法符合以下国际和国家标准的试验方法：ASTM D4294-2008，GB/T 17040，ASTM D6445，SH/T 0742等

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