X-荧光分析的固体材料的样品制备

X-射线荧光是确定样品成分的Z通用的方法曝露在X- 射线下的样品，每个样品成分将产生duyi无二的X-荧光射线接下来的分析结果是将标准品与所给化学品进行比较材料的样品制备变的越来越重要，因为在过去的几年当中，软件和X射线设备提高了追踪分析检测限度，因此颗粒尺寸非常关键，需要达到20微米到60微米之间，颗粒大小影响结果非常显著，随着颗粒尺寸的增加，X-射线强度减弱 行星式高能球磨仪