TESCAN All in One 在材料领域综合解决方案

随着科研的深入及学科的交叉，常规扫描电镜系统无法满足科研工作者日益提升的分析需求。借助其它分析系统所得的数据，和电镜系统的数据往往非同时同位。TESCAN提出了All-In-One的综合解决方案，在常规的SEM系统上，增加Raman Spectrum Image以及TOF-SIMS和AFM等多种表征系统，可以极大的提升扫描电镜系统的原位综合分析能力，做到所见即所得。