邀请函 | 来2024年欧洲显微大会首批体验 TESCAN 顶配 PFIB - AMBER X 2
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EMC 2024
European Microscopy Congress
2024年欧洲显微镜大会
2024年8月25 - 30日
丹麦，哥本哈根
TESCAN 邀您莅临
展位号：#B9
现场活动
可约机型：
TESCAN AMBER X 2
TESCAN TENSOR
TESCAN MIRA G4
名额有限
注册从速
冷冻显微定位
《结合光学、电子和软X射线显微镜的冷冻工作流程，定位未标记特征》；
能谱CT
《高能谱CT能够在不破坏博物馆标本的情况下进行元素成像》
锂电池开发
《ToF-SIMS-FIB-SEM联用电镜对锂电池材料进行全面表征》
4D-STEM
《ExpertPI: 一个用于自动化4D-STEM多模态分析和方法开发的综合工具》
8月26日 午餐会
AMBER X 2 正式发布《AMBER 2 和 AMBER X 2：新一代 FIB-SEM 更快、更精、更好用》
8月28日 快闪演示
《用于材料研究的先进TEM样品制备》
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European Microscopy Congress 2024
TESCAN BOOTH #B9
Bella Center Copenhagen
Center Blvd. 5,
2300 K?benhavn,
Denmark
本次看点
新品发布！
TESCAN AMBER X 2
增强型 PFIB 镜筒
AMBER X 2 让成像更卓越、分析更精确、工作流程更简便、分辨率更高、导航更轻松、切割打磨更快。
无磁场干扰的 SEM 镜筒
消除浸没式光学限制，能对各种材料进行高分辨率成像，具有广阔的视野和各种扫描模式。
多模态和多尺度分析
AMBER X 2 支持独特的3D方法，如实时 3D ToF-SIMS, 可以获得对电池研究很重要的详细元素组成分析。
● 新品发布 | TESCAN又出重拳，更厉害的 AMBER X 2 PFIB 来了！ | |
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独家！TESCAN TENSOR 4D-STEM
专用型4D扫描透射电子显微镜
体验TENSOR 4D-STEM的能力，它专为多模态纳米表征设计。这项技术在形态、化学和结构分析方面表现出色，对材料科学家、半导体研发、失效分析工程师和晶体学家至关重要。
新一代！TESCAN CLARA
一款超高分辨扫描电镜
用于快速、准确、全面地分析任何材料的纳米级表征工具。亲眼看看它如何为您的样本带来新的见解，并与专家对话互动。
TESCAN UniTOM HR
一款多功能显微CT系统
结合了高空间分辨率和令人印象深刻的时间分辨率，适合静态和动态成像。这款最先进的设备满足您的所有显微镜成像需求。
电池研究分析工作流程
发现我们独特的高电流FIB、无磁干扰的超高分辨扫描电镜和ToF-SIMS联用如何革新你的电池研究，使你在该领域取得显著进步；
TESCAN 生命科学解决方案
生物样品的2D和3D表征
与我们的生命科学专家进行讨论，他们将可提供探讨生物样品的2D和3D表征领域的服务。
克服Cryo-ET样品制备瓶颈
了解诸如等离子FIB等开创性技术，以克服Cryo-ET样品制备瓶颈，以及从具有挑战性的样品中进行超快速冷冻网格薄片制备和提拉。
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