泰思肯贸易(上海)有限公司
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眼见为实 | 扫描透射电镜也可以轻松定位样品和快速BF/DF成像

2024-04-24265

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在扫描透射电子显微镜(STEM)时,您是否曾在定位样品或如何获得Z佳图像质量时遇到困难?

TESCAN TENSOR 4D-STEM 将通过其直观的操作和自动化图像采集功能,彻底改变您的工作流程。


视频展示了 TESCAN TENSOR 的两大特点:


便捷的样品定位

像使用在线地图一样轻松定位您的样品,避免频繁切换模式和过度曝光


快速的明场/暗场成像

样品放入后15分钟内,即可获得高质量的明场(BF)和环形暗场(ADF)STEM图像。


TESCAN TENSOR 配备了创新的用户界面 ExploreTM,通过Z小化扫描透射电子显微镜繁琐的调整和校准需求,简化了用户体验。


启动数据采集和分析会话后,ExploreTM 会自动收集样品的低倍率概览图像,通常大小约为 1x1 毫米或 2x2 毫米。对于 STEM 来说,这是一个异常大的视野范围,使用户能够快速且直观地识别并导航到感兴趣的区域。在放大到更高倍率的同时,显微镜在后台自动进行调整,以确保Z佳图像质量。


然后,可以在放大的概览图像上绘制感兴趣的区域,并选择任何可用的测量方式,例如明场/暗场 STEM 成像。


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