inTEST 热流仪微控制器 MCU 芯片高低温测试
2021-08-26260微控制器 MCU 芯片高低温测试
上海伯东客户某具有 20年集成电路芯片设计生产的半导体公司, 采购 inTEST ATS-545-M 高低温测试机用于工业级通用微控制器 MCU 的高低温测试, 微控制器 MCU 芯片广泛应用于手机, 打印机, 工业控制, 医/疗设备, 汽车电子以及智慧家庭等领域
微控制器 MCU 芯片需要进行温度测试
通电测试时, 单一芯片需要在模拟环境下, 也就是不同的温度下, 测试不同的参数, 验证是否满足设计的功能性, 比如通过高低温测试机模拟温度 80℃, 监测运行多个参数.
芯片进行高低温测试时, 除了连接高低温测试机外, 同时连接一些线缆接到专门的信号检测仪器上, 查看在特定温度下 -40℃ 至 160℃ 芯片的功能, 比如运行频率,功耗等. inTEST 高低温测试机的主要作用就是快速提供需要的模拟环境温度.
针对客户提出的测试要求, 上海伯东提供微控制器 MCU 芯片高低温测试解决方案
推荐选用美国 intest Thermostream 热流仪 ATS -545 可满足客户的测试标准条件. |
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