利用FT150h测量陶瓷芯片部件中Sn/Ni 双层膜

2016-05-162516

行业应用：

石油/化工化肥

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方案优势

FT150h配备了新型聚光光学系以及升级后的Vortex?检测器，对于从前机种难以测量的微小范围，实现了同时高精度测量更厚的Sn与它下面的Ni，此份资料中介绍了针对陶瓷片式原器件的疑似样品，Ag上的Sn/Ni双层膜的同时测量的案例日立 FT150系列荧光X射线镀层膜厚测量仪