微束XRF涂层厚度和材料分析仪，方便快速进行质量控制和验证测试，在几秒内即可获得准确的数据。
基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法，提供易于使用、快速和无损的分析，几乎不需要样本制备，能够分析元素周期表上从13Al 到92U 的固体或液体样品。
微焦斑 XRF 光谱仪应用于 PCB、半导体和电子行业
控制表面处理工艺的能力决定线路板的品级、可靠性和寿命。根据IPC 4556和IPC 4552A测量非电镀镍（EN，NiP）电镀厚度和成分结构。日立分析仪器产品帮助您在严控的范围内持续运营，确保高质量并避免昂贵的返工。
零件必须在规格范围内被电镀，以达到预期的电力、机械及环境性能。 开槽的X-Strata系列产品 ，可以测量小的试片或连续带状样品，从而达到 引线框架（引线框架）、连接器插针、线材和端子的上、中和预镀层厚度的控制。
半导体器件越来越小巧而复杂，需要分析设备测量其在小区域上的薄膜。日立分析仪器的分析仪设计为可为客户所需应用提供高准确性分析，及重复性好的数据。
结合采购和本地制造的组件及涉及产品的多个测试点，实现从进厂检查到生产线流程控制，再到质量控制。日立分析仪器的微焦斑XRF产品帮助您在全生产链分析组件、焊料和产品，确保每个阶段的质量。
对可再生能源的需求不断增加，而光伏在收集太阳能量方面扮演着重要的角色。有效收集这种能量的能力一部分取决于薄膜太阳能电池的质量。微束XRF可帮助保证这些电池镀层的准确度和连贯性，从而确保高效率。
与复杂的国际供应链合作，验证和检验从供应商处收到的材料至关重要。使用日立分析仪器的XRF技术，根据IEC 62321方法检验进货是否符合RoHS和ELV等法规要求，确保高可靠性涂镀层被应用于航空和军事领域。
X-Strata920 | X-Strata920 | FT110A | EA6000VX 高分辨率 SDD | FT160 | |
| ENIG | ★★☆ | ★★★ | ★★☆ | ★★★ | ★★★ |
| ENEPIG | ★★☆ | ★★★ | ★★☆ | ★★★ | ★★★ |
| 非电镀镍厚度和组成 (IPC 4556, IPC 4552) | 无 | ★★☆ | 无 | ★★★ | ★★★ |
| 非电镀镍厚度 | ★★☆ | ★★★ | ★★☆ | ★★★ | ★★★ |
| 浸镀银 | ★★☆ | ★★★ | ★★☆ | ★★★ | ★★★ |
| 浸镀锡 | ★★☆ | ★★★ | ★★☆ | ★★★ | ★★★ |
| HASL | ★★☆ | ★★★ | ★★☆ | ★★★ | ★★★ |
| 无铅焊料（如 SAC) | ★☆☆ | ★★☆ | ★☆☆ | ★★★ | ★★★ |
| CIGS | 无 | ★★☆ | 无 | ★★★ | ★★★ |
| CdTe | 无 | ★★☆ | 无 | ★★★ | ★★★ |
| 纳米级薄膜分析 | 无 | ★★☆ | 无 | ★★★ | ★★★ |
| 多层分析 | ★★☆ | ★★★ | ★★☆ | ★★★ | ★★★ |
| IEC 62321 RoHS 筛选 | 无 | 无 | 无 | ★★★ | 无 |
| 检测特征 < 50 µm | 无 | 无 | 无 | 无 | ★★★ |
模式识别软件 | 无 | 无 | ★★★ | ★★★ | ★★★ |
元素分布图 | 无 | 无 | 无 | ★★★ | 无 |
微焦斑 XRF 光谱仪应用于金属表面处理
检验所用涂层的厚度和化学性质，以确保产品在恶劣环境下的功能性和使用寿命。轻松处理小紧固件或大型组件。
通过确保磨蚀环境中关键部件的涂层厚度和均匀度，预防产品故障。复杂的形状、薄或厚的涂层和成品都可被测量。
当目标是实现无瑕表面时，整个生产过程中的质量控制至关重要。通过日立分析仪器的多种测试设备，您可以可靠地检测基材，中间层和顶层厚度。
在极端条件下进行的零件的表面处理必须被控制在严格公差范围内。确保符合涂镀层规格、避免产品召回和潜在的灾难性故障。
X-Strata920 | X-Strata920 | FT110A | FT160 | |
| Zn / Fe, Fe 合金 Cr / Fe, Fe 合金 Ni / Fe, Fe 合金 | ★★☆ | ★★★ | ★★☆ | ★★★ |
| ZnNi / Fe, Fe 合金 ZnSn / Fe, Fe 合金 | ★★☆ | ★★★ | ★★☆ | ★★★ |
| NiP / Fe NiP / Cu NiP / Al | ★★☆ (仅厚度) | ★★☆ | ★★☆ (仅厚度) | ★★★ (厚度和成分) |
| Ag / Cu Sn / Cu | ★★☆ | ★★★ | ★★☆ | ★★★ |
| Cr / Ni / Cu / ABS | ★★☆ | ★★★ | ★★☆ | ★★★ |
| Au / Pd / Ni /CuZn | ★★☆ | ★★★ | ★★☆ | ★★★ |
| WC / Fe, Fe 合金 TiN / Fe, Fe 合金 | ★★☆ | ★★★ | ★★☆ | ★★★ |
| 纳米级薄膜分析 | 无 | ★★☆ | 无 | ★★★ |
| 多层分析 | ★★☆ | ★★★ | ★★☆ | ★★★ |
| IEC 62321 RoHS 筛选 | 无 | 无 | 无 | 无 |
| DIM可变焦测试系统 | 无 | 无 | ★★★ | 无 |
| 模式识别软件 | 无 | 无 | ★★★ | 无 |
X-Strata920 （正比计数器） | X-Strata920 （硅漂移探测器） | |
| 元素范围 | Ti – U | Ai – U |
| 样品舱设计 | 开槽式 | 开槽式 |
| XY 轴样品台 | 固定台、加深台、自动台 | 固定台、加深台、自动台 |
| 样品尺寸上限 | 250(宽)x200(深)x50(高)mm | 250(宽)x200(深)x50(高)mm |
准直器数量上限 | 6 | 6 |
滤光片数上限 | 3 (secondary) | n/a |
准直器尺寸下限 | 0.01 x 0.25 mm (0.5 x 10 mil) | 0.01 x 0.25 mm (0.5 x 10 mil) |
样品台行程上限 | 178 x 178 mm | 178 x 178 mm |
SmartLink 软件 | ✔️ | ✔️ |
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