日立分析仪器(上海)有限公司
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XRF镀层测厚仪FT110A


产品介绍:

FT110A | 台式XRF镀层测厚仪
高通量镀层分析FT110A 是一款台式 XRF 分析仪,旨在应对生产中镀层分析的挑战。强大的 X 射线荧光技术与自动定位功能相结合,有助于提高电镀车间的生产力,同时确保组件符合最 高标准。准确性和可靠性是支持质量控制的 XRF 分析的核心,而 FT110A 可提供当今电镀组件所需的准确性。更新的成像系统、自动样品定位和大样品台使该分析仪非常易于使用,提高了通量并减少了人为错误。功能强大的 FT110A 能够同时测量多达四层以及基材,将全天候支持您的设施满足最 高的行业电镀规范。 


产品亮点

专为高通量生产而设计,来看 FT110A 如何支持您的质量控制。

  • 强大的高灵敏度技术可在几秒钟内提供结果

  • 对成品安全的无损检测

  • 自动化功能提高生产力

  • 分析多达四层和基材,加上电镀液

  • 易于非专业操作员使用

  • 测量方法符合 ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987

  • 大样品舱可容纳各种样品

  • 可定制的选项以适合您的应用



FT110A

元素范围

Ti – U

探测器

正比计数器系统

样品舱设计

开闭式或开槽式

准直器数量

2 或 4

最 小准直器

0.025 x 0.4 mm

XY轴样品台选择

程控或固定

XY轴样品台行程

250 x 200 mm

程控Z轴行程

150 mm

最 大样品尺寸

500 x 400 x 150 mm

样品聚焦

聚焦激光和可选的自动聚焦

样品视图

摄像头视图和可选的第二广角摄像头

测量点识别

可选

软件

X-ray Station

 


FT110A 是一款台式 XRF 分析仪,旨在应对生产中镀层分析的挑战。强大的 X 射线荧光技术与自动定位功能相结合,有助于提高电镀车间的生产力,同时确保组件符合Z高标准。
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