展会讯息 | 日立与您相约CPCA 2024

展会时间及地点

日立展位号

8.1H馆8P02展位

日立解决方案

镀层厚度分析

拥有45年的镀层分析专业知识，开发了1,000多种镀层应用，其中包括一系列产品：微焦斑、台式和手持式XRF仪器，以及台式和手持式磁感应电涡流测厚仪。的X-Strata系列和FT系列X射线镀层测厚仪提供全面的光斑尺寸、探测器、样品台配置，满足客户不同的分析目的和需求。我们的镀层专家致力于为您提供Z优化的镀层分析解决方案。

热分析仪器

日立的热分析仪系列广泛用于材料物性评测分析，比如玻璃化转变温度、热膨胀、软化特性等。这类仪器受到全球制造商和研究实验室的信任，且具有顶级灵敏度，能捕捉微小的热事件。仪器整合了日立的RealView系统，在关键时刻具有可靠热分析所需的精度和准确度。

RoHS检测

日立EA系列XRF分析仪专为RoHS（有害物质限制）设计，15年来一直受到信任。通过对有害物质的简单快速的测量，确保您的产品能够满足环境法规的要求。日立HM1000A 采用先进的 APCI（大气压化学电离）和质谱技术，快速而低成本地测定样品中邻苯二甲酸酯的总量，将帮助您生产出符合 RoHS 2.0 指令的产品。除了我们的台式分析仪外，手持式XRF分析仪 X-MET8000 Expert CG 还可以对来料到Z终产品进行快速、无损的筛查。它非常适合大型部件的检测，以及携带至现场检测。