北京英格海德分析技术有限公司
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磁悬浮吸附、解析分析仪

XEMIS是一款高精度的吸附微量天平,用于极端环境下的精密测量。它可作为微量天平单独使用,也可作为完整的吸附分析仪器。XEMIS有着出色的灵活性以及卓越的称量精度和稳定性。

产品特点

产品应用
XEMIS的应用领域:
该XEMIS可广泛应用于不同的吸附气体。如有具体要求请与我们联系。
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