介绍SFT9500的极薄膜Au镀层的测量事例

近年来随着科技的进步，产品的小型化・镀层厚 度的超薄膜化也进步了，特别是镀金层厚度也达到 了纳米等级由于膜厚变薄了，荧光X射线的测量 灵敏度不足，测量就变得困难了因此，对于以往 仪器测量困难的纳米等级的膜厚管理，在这里介绍 使用配备有高计数率半导体检测器的SFT9500的 测量事例 日立FT110A X射线镀层测厚仪