X射线荧光分析仪(ED-XRF)-利用薄膜FP法测试膜厚

简介

       利用薄膜FP法测试膜厚为了提高产品部件的耐腐蚀性、装饰性和功能性，电镀等表面处理技术被广泛地应用于各个行业。由于镀膜的厚度与产品的特性、质量及生产成本有关，因此管理非常重要，对镀层厚度有着多种测试、分析和评定方法。X射线荧光光谱仪可以进行无损、无标样分析，Z多能够测试5层镀膜。

各种标准样品的测试实例

1.金镀层

样品

测试条件

管电压：50 kV

准直器直径：0.9 mm Φ

气氛：大气

测试时间：60秒

谱图

分析结果

 2.镍镀层

样品

测试条件

管电压：50 kV

准直器直径：0.9 mm Φ

气氛：大气

测试时间：60秒

谱图

分析结果

3、锌镀层

样品

测试条件

管电压：50 kV

准直器直径：0.9 mm Φ

气氛：大气

测试时间：60秒

谱图

分析结果

4、银镀层

样品

测试条件

管电压：50 kV

准直器直径：0.9 mm Φ

气氛：大气

测试时间：60秒

谱图

分析结果

使用仪器：JSX-1000S 能量色散型X射线荧光分析仪