JIB-4000 聚焦离子束加工观察系统升级为JIB-400

JIB-4000 聚焦离子束加工观察系统升级为JIB-4000PLUS

JIB-4000 聚焦离子束加工观察系统升级了，新型号：JIB-4000PLUS。该设备为单束FIB装置，不仅可以对样品表面进行SIM观察 、研磨、及碳和钨等沉积，还可以为TEM制备薄膜样品和截面样品；可选3D观察功能、自动TEM样品制备功能，能对应多种制样需求。