详细信息
产品概述
半导体晶圆拉曼光谱测试系统R1——应力、组分、载流子浓度 面向半导体晶圆检测的拉曼光谱测试系统
主要功能:•光穿过介质时被原子和分子散射的光发生频率变化,该现象称为拉曼散射。
•拉曼光谱的强度、频移、线宽、特征峰数目以及退偏度与分子的振动能态、转动能态、对称性等紧密相关
•广泛地应用于半导体材料的质量监控、失效分析。
仪器架构:
性能参数: 拉曼激发和收集模块 | 激光波长 | 532 nm |
激光功率 | 100 mW |
自动对焦 | •在全扫描范围自动聚焦和实时表面跟踪 •对焦精度<0.2微米 |
显微镜 | •用于样品定位和成像 •100x,半复消色差物镜 •空间分辨率<2微米 |
拉曼频移范围 | 80-9000 cm-1 |
样品移动和扫描平台 | 平移台 | •扫描范围大于300x300mm。 •最小分辨率1微米。 |
| 样品台 | •8寸吸气台(12寸可定制) •可兼容2、4、6、8寸晶圆片 |
光谱仪和探测器 | 光谱仪 | •320 mm焦长单色仪,接面阵探测器。 •分辨率<2.0 cm-1。 |
软件 | 控制软件 | •可选择区域或指定点位自动进行逐点光谱采集 |
Mapping数据分析软件 | •可对光谱峰位、峰高和半高宽等进行拟合。 •可自动拟合并计算应力、晶化率、载流子浓度等信息,样品数据库可定制。 •将拟合结果以二维图像方式显示。 |
晶圆Mapping软件界面
![20240426-1379757113.jpg 20240419094457.jpg](http://yiqi-oss.oss-cn-hangzhou.aliyuncs.com/aliyun/2075/Company/20240426-136651955662b485b61e2c.png)
数据分析软件界面
应力检测—GaN晶圆片
利用拉曼光谱568 cm-1位置的特征峰位移动,可以检测GaN晶圆表面应力分布。类似方法还可应用于表征Si/SiC/GaAs等多种半导体。
载流子浓度检测——SiC晶圆片组分检测——结晶硅薄膜晶化率测试结晶率指晶态硅与晶界占非晶态、晶态、晶界总和的质量百分比或体积百分比,是评价结晶硅薄膜晶化效果的一项重要指标。晶化率xxcc可通过拟合拉曼光谱分峰后定量计算。
多层复杂晶圆质量检测——AlGaN/GaNHEMT•氮化镓高电子迁移率晶体管则凭借其良好的高频特性在移动电话、卫星电视和雷达中应用广泛。
•晶圆片包含Si/AlGaN/GaN多层薄膜结构。
•拉曼光谱可给出多层结构的指纹峰,并对其应力、组分、载流子浓度等进行分析。
AlGaN/GaN晶圆,直径6英寸面向半导体晶圆检测的拉曼光谱测试系统
核心参数
仪器分类: 光栅型仪器种类: 便携
产品优势
半导体晶圆拉曼光谱测试系统具有自动对焦和实时表面跟踪功能,无需样品标记,可进行无损非接触式测量,空间分辨率<1μm。系统可以对第三代半导体进行组分、应力、载流子浓度、结晶度和缺陷进行检测,广泛地应用于半导体材料的质量监控、失效分析。