Oxford膜厚仪CMI243膜厚测量仪-深圳市方源仪器有限公司

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Oxford膜厚仪CMI243膜厚测量仪

深圳市方源仪器有限公司提供Oxford膜厚仪CMI243膜厚测量仪，这款测厚仪是紧固件行业应用的理想工具。采用基于相位的电涡流技术，CMI243手持式测厚仪易于用户控制，并且可以同X射线荧光测厚仪的准确性和精密性媲美。为了让客户能以低成本购买，CMI243免去了对多探头、操作培训和持续保养的需要。

可无损伤地检测磁性金属基铁（如：铁、钢、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆层的厚度（如：锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等）。单用测厚仪广泛地应用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业必备的仪器。符合GB/T 4956-1985 磁性金属基体上非磁性覆层厚度的测量。便携设计，手掌大小，采用高速的DSP芯片，具有快速的测量能力；人性化设计，简单操作。

产品名称	膜厚仪CMI243
型号	CMI243
品牌	英国牛津仪器Oxford
用途	专门为测量磁性金属上的 ( 如锌、镍等 ) 涂镀层厚度而设计的便携式膜厚仪
测试原理	独特的涡电流测试方法
测量范围	0.08-1.50mils(2-38um)
测量精度	±1%
分辨率	0.01mils(0.1um)
探头	ECP-M锌镍均可测量
单位	公、英制可以转换（mils、um）
统计数据显示	读取次数、平均值、标准差、最高值、zuidi值、值
接口	RS-232
显示	液晶显示，字符高12.7mm
按键	16键
执行标准	ASTM B244-B259;DIN 50984;ISO 2360;ISO29168(DRAFT);BS 5411
记忆储存	12400个数据
重量	260g(含电池)
外型尺寸	14.9X7.94X3.02cm
电池	9V电池(周)
产地	美国

核心参数

厚度范围: 0-38um分辨率: 0.01mils(0.1um) 响应时间: 1s

产品优势