STOE 粉晶衍射仪配件_反射模式样品II

产品介绍：
1.产品特点

· 利用反射模式来确定薄膜厚度，组成和界面粗糙度；

· 利用掠射实验来对薄膜进行相分析；

· 用配备数字显示的千分尺来控制样本的位置校准；

· 能够手动调节样品架的倾斜度。

2.适用仪器

STADI P、STADI MP