产品名称:显微熔点仪
产品型号:SGW®X-4A
SGW®X-4A显微熔点仪产品特点:
测定物质的熔点。主要用于药物、化工、纺织、染料、香料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。
显微熔点仪SGW®X-4A主要技术参数:
熔点测量范围:室温至320℃
测量重复性:±1℃ (在<200℃ 时)
±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 时)
温度显示最小值:0.1℃
熔点观察方式 单目显微镜
光学放大倍数 40×
产品名称 | 型号 | 技术参数 |
显微熔点仪(数显) | SGW®X-4 | 范围:室温~320℃,最小读数单位:1℃, 重复性:±1℃(<200℃),±2℃(≥200℃) |
显微熔点仪(数显) | SGW®X-4A | 范围:室温~320℃,最小读数单位:0.1℃, 重复性:±1℃(<200℃),±2℃(≥200℃) |
显微熔点仪(数显) | SGW®X-4B | 范围:室温~320℃,最小读数单位:0.1℃, 重复性:±1℃(<200℃),±2℃(≥200℃) 双目体式显微镜,光学放大倍数:40倍-100倍 |
滴点软化点测定仪 (程控、液晶数显) | WQD-1A | 范围:室温~300℃ 最小读数单位:0.1℃ |
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