Filmetrics F20 光学膜厚测量仪

Filmetrics F20 薄膜厚度测量仪

测量厚度从 1nm 到 10mm 的膜厚测量系统

您是想要知道薄膜厚度、光学常数，还是想要知道材料的反射率和透过率，F20都能满足您的需要。仅需花费几分钟完成安装，通过USB连接电脑，设备就可以在数秒内得到测量结果。基于模块化设计的特点，F20适用于各种应用。

我们能测量什么

薄膜特性：厚度、反射率、透射率、光学常数、均匀性、刻蚀量等

薄膜种类：透明及半透明薄膜，常见如氧化物、聚合物甚至空气

薄膜状态：固态、液态和气态薄膜都可以测量

薄膜结构：单层膜、多层膜；平面、曲面

附加特性

• 嵌入式在线诊断方式

• 免费离线分析软件

• 精细的历史数据功能，帮助用户有效的存储、重现和绘制测量结果

所有的这些功能都伴随着直观的软件界面以及我们即时的电话和互联网支持（24小时/每周5工作日）。

膜层范例

基本上光滑的、半透明的或低吸收系数的薄膜可以测量。

这包括电介质与半导体材料，例如：

膜厚测量范围

测量原理

常见应用

我们对薄膜问题都很感兴趣，欢迎与我们联系讨论您的薄膜，并到我们的实验室测试您的薄膜。

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