Filmetrics F40 光学膜厚测量仪

Filmetrics-F40薄膜厚度测量仪

结合显微镜的薄膜测量系统

Filmetrics F40 SS-Microscope-VIS-1系统                                  Filmetrics F40-UV SS-Microscope-UVX-1系统

Filmetrics的精密光谱测量系统让用户简单快速地测量薄膜的厚度和光学常数，通过对待测膜层的上下界面间反射光谱的分析，几秒钟内就可测量结果。

当测量需要在待测样品表面的某些微小限定区域进行，或者其他应用要求光斑小至1微米时，可以使用F40。使用先前足部校正显微镜的物镜，再进行测量，即可获得厚度及光学参数值。只要透过Filmetrics的C-mount连接附件，F40就可以和市面上多数的显微镜连接使用。C-mount上装备有CCD摄像头，可以让用户从电脑屏幕上清晰地看样品和测量位置。

相关应用

半导体制造                          生物医学原件

• 光刻胶                              • 聚合物/聚对二甲苯

• 氧化物/氮化物                  • 生物膜/球囊壁厚度

• 硅或其他半导体膜层          • 植入药物涂层

微电子                                液晶显示器

• 光刻胶                              • 盒厚

• 硅膜                                • 聚酰亚胺

• 氮化铝/氧化锌薄膜滤镜    • 导电透明膜

​