2024半导体先进技术创新发展和机遇大会圆满闭幕
2024-05-25532为期两天的2024半导体先进技术创新发展和机遇大会圆满结束。科技有限公司在本次会议上做了专题报告。并与现场观众一起探讨化合物半导体领域的多种测量技术,以及各种测量需求的对应解决方案。
专题报告
在现场
会议虽然结束了,我们的服务还会继续,如果您还有相关的应用问题欢迎联系我们,一起探讨。
感谢阅读
更多专题
1 | SiC半导体中膜厚测量解决方案 |
2 | KLA探针式台阶仪的原理及应用 |
3 | 环境的稳定性对高分辨率测量的重要性 |
微信公众号
长按识别二维码关注我们,了解更多膜厚及表面轮廓测量相关知识
上一篇:没有了