BTX-II
用于实验室分析的台式XRD/XRF分析仪
新一代X射线衍射仪器:
实验室用粉末X射线衍射仪(PXRD)
源自NASA和Olympus的已获ZG的技术
Olympus的BTX分析仪最初的研发目的是为NASA的火星科学实验室(MSL)项目进行化学和矿物学检测,如今已经发展成一款利用XRD/XRF两种高级技术、进行日常实际应用、设备齐全的台式仪器。BTX将Olympus和NASA的创新成果结合在一起使用,开创了同时使用X射线衍射和X射线荧光技术进行测量的新方式。
BTX使用一种专门开发的直接激励电荷耦合器件(CCD)“摄像头”,可以同时为X射线衍射和X射线荧光测量收集X射线光子数据。这是因为内置摄像头可以同时探测到光子位置和光子能量。能量分辨率约为200 eV (5.9 keV)的BTX,可以非常方便地进行XRF分析,易如查看软件光谱显示。
XRD分辨率 | 0.25° 2θ FWHM |
XRD范围 | 5-55° 2θ |
探测器类型 | 1024 × 256像素,2维Peltier致冷CCD |
XRF能量分辨率 | 250 eV,5.9 keV |
XRF能量范围 | 3到25 keV |
样本颗粒大小 | <150 μm碾碎矿石(100目筛,150 μm) |
样品量 | 大约15 mg |
X射线目标材料 | 铜或钴(标准配置为铜) |
X射线管电压 | 30 kV |
X射线管功率 | 20 W |
数据存储 | 40 Gb,坚固耐用的内部硬盘驱动器 |
无线连接 | 802.11 b/g,从网络浏览器进行遥控 |
工作温度 | -10 °C~35 °C |
外型尺寸 | 30 cm × 17 cm × 47 cm |
重量 | 12.5 kg |
巴斯德仪器(苏州)有限公司
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