低噪两槽式冷热冲击试验箱

高低温冷热冲击试验箱，是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业的测试设备，用于测试材料结构或复合材料，在瞬间下经温及极低温的连续环境下忍受的程度，得以在短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。

结构特点:

1、产品外形美观、结构合理、工艺先进、选材考究，具有简单便利的操作性能和可靠的设备性能。
2、冷热冲击箱分为高温箱,低温箱,测试箱三部分,采用*的断热结构及蓄热蓄冷效果，试验时待测物*静止，应用冷热风路切换方式将冷,热温度导入测试区实现冷热冲击测试目的。
3、采用先进的计测装置, 控制器采用大型彩色液晶人机触控对话式LCD人机接口控制器,操作简单, 学习容易, 稳定可靠。中、英文显示完整的系统操作状况、执行及设定程序曲线。具96个试验规范独立设定,冲击时间999小时59分钟, 循环周期1~999次可设定, 可实现制冷机自动运转，大程度上实现自动化，减轻操作人员工作量，可在任意时间自动启动﹑停止工作运行。
4、箱体左侧具一直径50mm之测试孔，可供外加电源负载配线测试部件。
5、可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，并于执行冷热冲击条件时,可选择二槽式或三槽式及冷冲、热冲、冷热冲击之功能，具备高低温试验机的功能。
6、具备全自动，高精密系统回路、任一机件动作，*有P.L.C锁定处理，全部采用P.I.D自动演算控制,温度控制精度高。
7、先进科学的空气流通循环设计，使室内温度均匀，避免任何死角。
8、完备的安全保护装置，避免了任何可能发生安全隐患，保证设备的长期可靠性。

冷热冲击试验箱又名高低温冲击测试箱，它是一种电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等工业，国防工业、航天、兵工、BGA、PCB基扳、电子晶片IC、半导体陶瓷及聚合物之物理性变体，以测试其材料对高冷性变体的反复抵触拉力及产品在低温下所造成的化学变体或物理伤害，从精密IC到重机械元件，均无所需的理想测试工具，以测试材料结构或复合材料，在瞬间下经极热和极低温度条件下所造成的化学变体或物理伤害。

产品优势

控制系统：

1、温度控制器采用*韩国TEMP880彩色触摸式智能可程序温度控制器，程式编辑容易，荧幕操作简单。

2、温度显示0.1℃，解析度±0.1℃。

3、中英文液晶显示LCD触摸式面板，画面对谈式输入数据，温度可程控。

4、具有自动演算的功能，可将温湿度变化条件立即修正，使温湿度控制更为精确稳定。

5、控制器具有荧屏自动屏保功能，在长时间运行状态下更好的保护液晶屏使其寿命更长久。

6、主要电器均采用（施耐德）系列产品温度控制采用P.I.D＋S.S.R系统同频道协调控制。

7、资料及试验条件输入后，控制器具有荧屏锁定功能，避免人为触摸而停机。

8、具有RS-232或RS-485远程通讯界面，可在电脑上设计程式，监视试验过程并执行自动开关机。