热电参数测试系统（Namicro）-武汉嘉仪通科技有限公司

详细信息

热电参数测试系统产品特点

拥有独立知识产权，获得多项技术ZG。

采用动态法测量Seebeck系数，避免了传统静态测量法在温差测量方面的系统误差，测量更准确。

热电偶不直接和样品接触，避免出现微型热电偶断裂失效的问题。

炉壳过温报警，自动断电保护。

友好的软件界面，操作简单，实时显示采集数据、测试状态和结果，采用智能化数据存储及处理算法。

热电参数测试系统技术参数

型号	Namicro-3LT
温度范围	RT~800°C
温控方式	PID程序控制
最大升温速率	50°C/min
真空度	≤50Pa
测试气氛	真空
测量范围	泽贝克系数：S ≥ 8µV/K；电阻率：0.1µΩ•m ~ 106KµΩ•m
分辨率	泽贝克系数：0.05µV/K；电阻率：0.05µΩ•m
相对误差	泽贝克系数 ≤±7%，电阻率 ≤±5%
测量模式	自动
样品尺寸	块体，长x宽：(2~5) x (2~5)，单位mm；高度：10 ~ 18mm
主机尺寸	1000 x 400 x 500，单位mm
重量	75kg

热电参数测试系统样品要求

块体：具备平整上下端即可

若样品表面有腐蚀或氧化等杂质层覆盖，需对样品表面抛光，使材料裸露出来，保证接触良好

热电参数测试系统技术原理

动态测量法

测试过程中给试样两段施加一微小的连续变化的温差，测量样品两端热电势变化，温差∆T和热电势之间呈线性关系，其斜率即为seebeck系数。

四探针法

即四点接触法，电流的路径如右图所示，但测量电压使用的是另外两个接触点。相比二探针法，四探针法测量电阻率有个非常大的优点——不需要校准；有时用其它方法测量电阻率时还用四探针法校准，因而测量精度更高。

热电参数测试系统测试实例

1、康铜样品三次测试数据与美国AIP标准数值对比

　　2、Namicro-3L、ZEM-3对N型Bi2Te3测试结果对比

　　3、Namicro-3L、ZEM-3对P型Bi2Te3测试结果对比

　　4、Namicro-3L、ZEM-3对MgSi测试结果对比（太原理工提供样品）

产品优势

热电参数测试系统采用动态法(具有ZL技术)和四线法分别测量样品的Seebeck系数和电阻率。
热电参数测试系统主要是用于测试块体热电材料，包括康铜、镍、钨等金属，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等半导体及化合物，以及聚苯胺、PEDOT等高分子聚合物。