日本NF LCR测试仪ZM系列概述
测量范围覆盖从1mHz低频领域到5.5Hz高频领域
实现了快速且偏差小的稳定测量，可对应从材料研究到零部 件生产线等的各种用途
日本NF LCR测试仪ZM系列偏差小的高再现性 测量示例
按照以下条件使用ZM2372和ZM2376，对1nF的电容反复测量200次后得到的结果。
使用ZM2376，测量的再现性得到了进一步提高。
● 测量时间：5ms ● 测量频率：100kHz ● 测量信号电平：1V
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技术参数
苏州汇畅金机电设备有限公司
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