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有机颗粒样品扫描电镜分析
本文由 复纳科学仪器(上海)有限公司 整理汇编
2018-08-22 10:00 898阅读次数
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扫描电镜使用技巧Get,有机颗粒样品分析有妙招飞纳台式扫描电镜颗粒统计分析测量系统(PhenomParticleMetric),简称颗粒系统,由荷兰Phenom-World公司发布于2013年11月。颗粒系统通过颗粒与背景衬度的差异对颗粒进行图像识别,在获取SEM图像的同时可以获取所有颗粒的形貌数据,例如直径、等效面积、等效体积、圆度等。并且可以将这些数据进行统计。颗粒探测范围:100nm-0.1mm,颗粒探测速度高达1000颗/分。图1.PhenomParticleMetric配置图在实际操作过程中,颗粒与背景元素差异大的颗粒可以很好的识别,但由于图像识别技术局限性,如颗粒与背景元素差异较小,例如有机颗粒,则软件难以进行有效识别,在这种情况下,我们可以采用喷金的办法人为创造出黑色颗粒边界,从而增加软件识别的准确性。粘在导电胶表面的颗粒与导电胶之间形成空隙区,如图2右上所示,在喷金过程中,此孔隙区无法被金覆盖。喷金完成之后,结构示意图如图3所示。此时在SEM视图下,可以清晰看到颗粒边缘的黑色边界,图4为颗粒在喷金后阴影边界与颗粒识别案例。识别结果证明适当喷金有利于提升颗粒系统识别的准确性。而喷金多少呢?我们通过实践总结规律得出,喷金厚度为颗粒尺寸5~10%范围内,可以有效增强颗粒系统识别的准确性。图2.颗粒样品喷金过程示意图图3.颗粒样品喷金结果示意图图4.喷金后阴影边界与颗粒识别案例在拍照过程中,应注意调节图像的亮度/对比度,如亮度对比度都较低,则容易造成软件识别率下降,如图5所示。因此,
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有机颗粒样品扫描电镜分析
扫描电镜使用技巧Get,有机颗粒样品分析有妙招飞纳台式扫描电镜颗粒统计分析测量系统(PhenomParticleMetric),简称颗粒系统,由荷兰Phenom-World公司发布于2013年11月。颗粒系统通过颗粒与背景衬度的差异对颗粒进行图像识别,在获取SEM图像的同时可以获取所有颗粒的形貌数据,例如直径、等效面积、等效体积、圆度等。并且可以将这些数据进行统计。颗粒探测范围:100nm-0.1mm,颗粒探测速度高达1000颗/分。图1.PhenomParticleMetric配置图在实际操作过程中,颗粒与背景元素差异大的颗粒可以很好的识别,但由于图像识别技术局限性,如颗粒与背景元素差异较小,例如有机颗粒,则软件难以进行有效识别,在这种情况下,我们可以采用喷金的办法人为创造出黑色颗粒边界,从而增加软件识别的准确性。粘在导电胶表面的颗粒与导电胶之间形成空隙区,如图2右上所示,在喷金过程中,此孔隙区无法被金覆盖。喷金完成之后,结构示意图如图3所示。此时在SEM视图下,可以清晰看到颗粒边缘的黑色边界,图4为颗粒在喷金后阴影边界与颗粒识别案例。识别结果证明适当喷金有利于提升颗粒系统识别的准确性。而喷金多少呢?我们通过实践总结规律得出,喷金厚度为颗粒尺寸5~10%范围内,可以有效增强颗粒系统识别的准确性。图2.颗粒样品喷金过程示意图图3.颗粒样品喷金结果示意图图4.喷金后阴影边界与颗粒识别案例在拍照过程中,应注意调节图像的亮度/对比度,如亮度对比度都较低,则容易造成软件识别率下降,如图5所示。因此,[详细]
2018-08-22 10:00
产品样册
扫描电镜分析样品表面的深度是多少
Z近,有飞纳电镜用户询问关于电子束分析样品时可以穿透样品的深度的问题,这里小编将为大家详细介绍一下。 [详细]
2020-06-30 13:42
应用文章
磁性样品的扫描电镜观察与分析
磁性样品的扫描电镜观察与分析[详细]
2024-09-27 23:46
其它
放大倍数是扫描电镜分析样品的关键吗?
放大倍数是一个非常简单的概念,但是由于其自身的定义有时会产生混乱。这个博客的目的是澄清这个话题,并探讨其他可以更好地描述一个对象有多大的参数。**个放大镜可以追溯到希腊时期,阿里斯托芬首先使用其描述了孩子们试图看到小细节的休闲活动。这是**次“放大”这个词语出现在我们的语言中。随着时代的发展进步,人们在科学探索中对微观和纳米世界的兴趣呈指数级增长,从而需要量化放大倍数。现代科学对于放大倍率的定义是两次测量之间的比率,这意味着需要两个对象来正确评估该值。**个对象显然是样品,第二个是它的图片。事实上,虽然样品尺寸不变,但图片可以以任意大小打印。所以请允许我做一些计算:这意味着如果我打印苹果照片时**次打印时选择标准打印机的纸张,再次打印时选择用于覆盖建筑物的海报,则两次放大倍数值将发生显着变化。[详细]
2018-08-22 10:00
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利用扫描电镜全面了解样品
样品名称铅电池极片框架样品类型金属,固体是否喷金未喷金设备型号飞纳台式扫描电镜PhenomPure+测试项目扫描电镜:背散射探头模式Topo模式3D粗糙度重建二次电子探头能谱:EDSmapping测试目的表面镀层质量观察[详细]
2018-08-22 10:00
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3M 8247防有机气体颗粒
3M 8247防有机气体颗粒[详细]
2014-03-12 00:00
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扫描电镜中如何观察含水样品?
扫描电镜(SEM)用电子束扫描样品表面,收集携带电子束与样品相互作用信息的反射电子。如果样品仓内残留有空气,空气原子与电子束相互作用,部分偏转电子,并在图像上增加噪声。这就是扫描电镜成像前必须达到一定真空度的原因。但是,虽然高的真空对于准确的分析来说是至关重要的,但它也会对某些类型的材料成像产生负面影响,例如含有水分的样品。阅读这篇博客,了解如何在扫描电镜的真空环境中观察对真空敏感的样品,并保持样品结构完整。SEM中的真空度首先,我们来谈谈扫描电镜(SEM)中的真空度。真空度(或压力值)可由操作者控制。对于台式扫描电镜,真空度在1-10帕斯卡之间。用于比较的是:大气压是100000帕斯卡。当压力降到大气压值以下时,所有液体都会发生相变。因此所有扫描电镜(SEM)的内部必须采用不受高真空度影响的特殊材料。有些样品会受到影响,并且它们的行为也会有所不同:Z敏感的是含水样品。有内部孔隙的样品,或者是由含水材料制成的样品,都可能会受到影响,因为它们会在成像过程中释放出气体。任何从样品中释放出的气体都是成像工具的风险,因为它可能会污染镜筒或探测器,损害仪器的功能,或影响图像质量。出于这个原因,飞纳台式扫描电镜(PhenomDesktopSEM)通常配备一个保护程序,当检测到突然或意外增加的压力水平时,会弹出样品。[详细]
2018-08-22 10:00
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扫描电镜制样篇--金相样品
所谓“相”就是合金中具有同一化学成分、同一结构和同一原子聚集状态的均匀部分。不同
相之间有明显的界面分开。合金的性能一般都是由组成合金的各相本身的结构性能和各相的
组合情况决定的。合金中的相结构大致可分为固溶体和化合物两大基本类型。所谓“金相”
就是金属或合金的相结构。
为了获得金属材料的真实显微组织并准确地观察、记录、测量和分析,合理有效的样品制备
是至关重要的。金相分析作为检验分析材料的手段之一,旨在揭示材料的真实结构。要进行
金相分析,就必须制备能用于微观观察检验的样品——金相试样。金相样品制备与制备人
员操作经验密切相关,制备人员的水平决定了试样的制备质量。
[详细]
2020-06-29 14:24
应用文章
你的扫描电镜样品有一个秘密
某些样品很难成像。有时即使前期使用**的制样方法,也不能帮助你得到想要的结果。样品表面粗糙度和表面特征可能会将你感兴趣的特定区域覆盖,这些区域可能包含材料的表面缺陷或特征等重要信息。正如这个案例一样,你需要从一个新的角度解析。例如在电脑芯片上进行故障分析时,一根导线或者其他物体可能会将导致故障的错误连接覆盖住。或是统计特殊设计的合金颗粒,这些颗粒能提高Zxin发动机部件或微型YL工具的性能,由于表面粗糙结构能将部分颗粒隐藏,使得统计结果不准确。[详细]
2018-08-22 10:00
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保证扫描电镜样品清洁有多重要?
扫描电镜(SEM)主要用于微观形貌分析,其测试结果的好坏,一方面是由仪器的性能、测试条件和操作人员水平决定,另一方面还与样品制备过程有关。
SEM 样品需要保持清洁、无污染物,尽量把污染程度降到。因此要求我们在拿取与制备样品时需要佩戴干净无粉手套,使用的剪刀、镊子等制样工具亦要保持干净。 [详细]
2020-06-30 11:26
应用文章
样品导电性对扫描电镜成像的影响
样品制备在扫描电镜分析中占有重要地位,它关系到微观图像的观察效果。如果制备的样品不适用于扫描电镜的观察条件,则很难拍摄出好的图像。众所周知,理想的扫描电镜样品一定是导电性非常好的,例如金颗粒、锡球等金属类材料。对于不导电的样品,如生物材料、纸张、塑料和陶瓷等,容易造成放电、图像漂移等现象,这些都是荷电效应产生的。 [详细]
2024-09-12 18:27
应用文章
驰奔扫描电镜应用-碳化硅粉体颗粒形态
驰奔扫描电镜应用-碳化硅粉体颗粒形态[详细]
2024-09-12 18:29
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扫描电镜(SEM)是如何检测样品信息的
扫描电镜(SEM)是一种用途广泛的科学仪器,它可以根据用户的需求提供样品不同类型的信息。在这里我们将阐述在扫描电镜(SEM)中产生的不同类型的电子,它们是如何被检测出来的,以及它们可以提供的信息等。电子显微镜是通过电子束来成像的。在图1中,您可以看到电子与物质相互作用所产生的各种信号,所有这些不同类型的信号携带着关于样品的不同的有用信息,由电子显微镜的操作人员根据需要选择接收的信号。例如在透射电镜(TEM)中,正如它的名字所示,检测到的信号是透过样品的电子,会提供样品内部结构的信息。在扫描电镜(SEM)下,通常需要检测两种类型的信号:背散射电子(BSE)和二次电子(SE)。图1:电子与物质相互作用区域,产生不同类型的信号[详细]
2018-08-22 10:00
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如何呈现扫描电镜样品表面的“真实形貌”
扫描电子显微镜(SEM)是依靠电子束与样品相互作用产生俄歇电子、特征 X 射线和连续谱 X 射线、背散射电子等信号,对样品进行分析研究。 扫描电镜在表征样品时,受诸多参数的影响,不同类型样品应选用合适的参数,才能呈现出样品更真实的表面信息。如在不同的加速电压下,电子束与样品作用所获得的信号会有很大的差别。[详细]
2020-06-30 13:25
应用文章
聚酯颗粒的分析
聚酯颗粒的分析[详细]
2024-09-22 18:19
安装说明
有机氯农药残留分析
有机氯农药残留分析[详细]
2024-09-15 16:45
专利
化妆品样品分析
化妆品样品分析[详细]
2024-09-15 02:30
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扫描电镜下样品降解效应:产生原因及解决办法
当使用扫描电子显微镜(SEM)时,随着观察时间增加,电子束可以改变甚至降解在被观察样品。我们并不喜欢这种降解过程,因为它会改变或甚至破坏观察细节,从而影响实验结果。本文会讲述降解效应的产生原因以及解决办法。在扫描电镜SEM中是使用聚焦电子束扫描样品表面,获取信号并处理来获得图像。电子由灯丝产生并被高压电场加速。高压一般在1kV至30kV之间,典型的束流一般在纳安范围。经过高压加速的电子与样品表面相互作用,对于不导电样品,这种相互作用可能损害样品和降解样品。该过程表现为样品表面产生的裂纹,或者是材料熔化甚至沸腾。降解速度随加速电压,观察束流和放大倍数的变化而变化。图1:不同种类非导电材料的降解现象对于那些看起来像是熔化或沸腾了的样品,你可能会认为是由于材料被电子束加热导致的。然而实际模拟结果表明,只有对于极端案例,温度才会达到材料的熔点。在这些极端案例中,是用极大束流、极高倍数聚焦极低热导系数的样品。不过,在低束流和低放大倍数下也可以发生降解效应,只是需要的时间更久些。是什么原因导致降解效应?入射电子照射到样品上之后,与样品原子中的电子发生相互作用。如果价电子碰巧被激发,它将留下一个空穴。该电子空穴必须在100飞秒内(即原子振动周期)被另一个电子填充,否则化学键将断裂。在导电材料中,这不是问题,因为电子空穴填充在1飞秒(fs)内。但是对于非导电材料,可能需要多达几微秒来填充电子空穴,导致化学键被破坏,进而改变化学材料及其形态。如何减缓降解效应?降解速度因材料不同而有很大差异,有些样品你可能根本看不到。如果样品降解并且会干扰您的结果,那么这里有一些提示可以减缓降解:用喷金设备溅射金膜涂覆样品以减缓降解。金膜越厚,效果越好。但要小心,不要用金膜遮盖细节。降低电流和加速电压。在样品的非重要区域调整拍照参数(例如对焦和对比度)。当设置好之后,移动到目标区域,立即拍照并迅速离开,这样就尽可能减少了电子束照射时间。[详细]
2018-08-22 10:00
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使用扫描电镜分析高分子涂层支架
一直以来,高分子的开发及应用是一个很广泛的研究领域。由于其各种优良的物理化学性质,及生物相容性,并借助处理工艺,高分子材料在植入式YL设备的应用中十分流行。本文了高分子涂层在制备药物洗脱支架中的应用,以及扫描电镜(SEM)在分析涂层性能时的应用。高分子支架在医学领域中,支架是插入到通道中的金属或塑料管,以保持通道畅通。根据不同的使用目的,支架也分为很多种类,从可膨胀的冠状动脉、血管和胆道支架,到简单的塑料支架(输尿管支架,用于保持肾脏和膀胱之间的尿液流动)。图1:支架的SEM图像药物洗脱支架的临床表现在很大程度上取决于其高分子涂层的性能。评估冠状动脉支架有效性和安全性的标准方法通常是随机临床研究,而使用台式电镜测试支架涂层对新品开发同样具有指导意义。[详细]
2018-08-22 10:00
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挥发性有机化合物的分析
挥发性有机化合物的分析[详细]
2012-08-15 00:00
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