文档简介当下主流的手机,平板电脑,笔记本等电子设备使用的电池材料主成分为钴酸锂类。然而,高含量钴溶液基体的情况下测量铅元素,由于受到了光谱之间的相互干扰,然而使分析变得困难。日立ICP(型号PS3520UVDD)拥有真空紫外波长的观察区域,可从不同波长分析线的区分来改善诸如此类的干扰情况。1.PS3520UVDD拥有130nm处波长的对应可能。(普通分光器一般只能达到160nm的短波长)2.因此,铅元素在短波长143.396nm处不受钴元素特征波长的干扰影响。3.铅143.396nm波长的检测下限值(DL)可达8ppb,使钴基体下的铅痕量分析成为可能。
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