X射线荧光镀层厚度测量仪 FT150 －软件概要－

文档简介X射线荧光镀层厚度测量仪作为一种可高速、简便地对电子零件等的镀层，半导体工艺中的薄膜，以及汽车部件中各类工业产品表皮膜等的膜厚进行管理的仪器而被广泛应用。FT150利用多毛细管所产生的照射直径为30μm的高强度X射线光束，Z适于测量微小连接器、柔性电路板及导线架等微小零件及超薄镀层。