赛默飞利用双压线性离子阱质谱仪多重解离技术对API 杂质谱进行全面分析

文档简介前言活性药物成分（API）和成品药的杂质分析是药物研发中不可或缺的一环。杂质的化学结构信息在评估毒性、改进合成途径，以及根据目标成药选择**剂型至关重要。为保证药效与消费者的安全，世界各国的监管机构都制定了药物杂质分析的指引，清楚说明基于日服用量、使用时间，和药物靶标的限量标准。LCMS已经成为Z常用的未知杂质分析技术。为了能在大量母药中识别并表征痕量杂质，具有高灵敏度、高扫描速度，并且能进行多级质谱分析（MSn）的质谱仪必不可少。在本研究中，Sigma-Aldrich所售的研究级阿德福韦酯（adefovirdipivoxil，ADP）被用来作为模型化合物进行API杂质分析。ADP是广泛用于慢性乙肝病毒感染的一种抗病。本研究中使用的LCMS系统由ThermoScientificAccelaTMUHPLC以及VelosProTM双压线性离子阱质谱仪构成。碎片信息通过结合应用CID与Trap-HCD解离技术获得。数据处理通过软件MassFrontierTM完成。使用产品：赛默飞双压线性离子阱质谱仪